微機繼電保護測試儀df/dt閉鎖
微機繼電保護測試儀df/dt閉鎖。
df/dt測試范圍
測試“df/dt閉鎖值”時,在此范圍內(nèi)逐點進行試探測試,每次測試時都從頻率始值下滑(或上滑)至終值,下滑(或上滑)的df/dt值在該范圍內(nèi)逐點變化,試探至某一輪試驗至保護動作,則測出此時的df/dt閉鎖的邊界值。
因為保護在大于整定的df/dt值下滑時閉鎖,所以,一般變化始值應(yīng)設(shè)置為大于保護整定的閉鎖值,變化終值應(yīng)設(shè)置為小于保護整定的閉鎖值,即測試保護從不動作到動作,測出保護的df/dt閉鎖值。
頻率變化范圍
每輪試驗頻率從始值下滑(或上滑)至終值。始值一般為50Hz,變化終值不能設(shè)置太小,因為一般裝置都有一個固有的“閉鎖頻率”,頻率太低了,裝置將會被閉鎖不出口。
注意:做該試驗時頻率變化前延時一般不能太小,以使保護有足夠時間解除閉鎖狀態(tài)。
df/dt測試范圍
測試“df/dt閉鎖值”時,在此范圍內(nèi)逐點進行試探測試,每次測試時都從頻率始值下滑(或上滑)至終值,下滑(或上滑)的df/dt值在該范圍內(nèi)逐點變化,試探至某一輪試驗至保護動作,則測出此時的df/dt閉鎖的邊界值。
頻率變化范圍
每輪試驗頻率從始值下滑(或上滑)至終值。始值一般為50Hz,變化終值不能設(shè)置太小,因為一般裝置都有一個固有的“閉鎖頻率”,頻率太低了,裝置將會被閉鎖不出口。
注意:做該試驗時頻率變化前延時一般不能太小,以使保護有足夠時間解除閉鎖狀態(tài)。
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